主讲人：康泽文
主讲人简介：康泽文，博士，ZEISS显微镜业务部高级工程师，从事电子显微镜方面的应用和研究工作多年。熟悉FE-SEM & FIB-SEM相关应用和技术领域，主要在材料科学领域为用户提供应用培训和技术支持等服务。擅长SEM中的原位实验搭建与FIB-SEM中结合ToF-SIMS与EDS痕量元素检测综合分析。
报告简介：随着科学问题的不断深入研究，越来越多的机理探索需实现从微纳到毫纳尺度的高效观察、分析及加工，确保极表面涂层最小损伤和真实样品信息；本次学术报告将呈现ZEISS的相关解决方案，聚焦于高效执行新能源器件的失效分析及材料器件的大面积截面快速观察；制备原位力学试样、同步辐射3D成像针尖和TEM样品；加工高熵、硬质合金等样品；支持跨尺度材料微结构的表征与研究，满足高质量、高效、快速的技术要求。
时 间：2026-06-09 15:00
地 点：精工楼2-304
